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Apreo S Hivac
產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
全面實現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化 劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。
 
最有效的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度，即使 是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像是也不例外。
 
無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結(jié)合， 讓用戶能夠獲得至關(guān)重要的對比或信號強度。
 
各種各樣的荷電緩解策略，包括樣品倉壓力最高為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。
 
卓越的分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室 支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
 
樣品處理和導(dǎo)航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
 
通過高級用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提 供專家級結(jié)果。
 
高真空模式下成像的羥磷灰石晶體的低能量 (1 keV) 二次電子圖像。
未找到相應(yīng)參數(shù)組，請于后臺屬性模板中添加

熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡具體指標(biāo)：

1電子光學(xué)

1.1電子槍類型：高分辨肖特基場發(fā)射電子槍

1.2加速電壓：200V-30kV

1.3電子著陸能量：20eV-30keV

1.4束流大?。?pA-400nA連續(xù)可調(diào)，保證能譜高效工作（后期做EDS Mapping和EBSD）

1.5透鏡（物鏡）幾何結(jié)構(gòu)：60°物鏡幾何結(jié)構(gòu)：支持傾斜較大的樣品（不規(guī)則樣品）

*1.6兼容磁性樣品

1.7光闌：自加熱物鏡光闌

1.8自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸

1.9 減速樣品臺

 

2分辨率

2.1高真空分辨率（STEM掃透模式）：0.8nm@30kV 

2.2高真空分辨率（SE二次電子）：1.0nm@15kV

*2.3高真空分辨率（SE二次電子）：1.0nm@1kV(樣品臺減速)

2.4分析工作距離分辨率：1.5nm@1kV

 

3探測系統(tǒng)

*3.1 鏡筒內(nèi)BSE探頭

3.2 鏡筒內(nèi)SE探頭

3.3 常規(guī)SE探頭 （ETD）

3.4 紅外CCD（觀察樣品臺高度）

3.5 Nav-Cam智能導(dǎo)航相機

 

4真空系統(tǒng)

4.1泵的組成：1個PVP渦旋泵+1個分子泵+2個離子泵

*4.2抽真空時間：≤ 3.5 分鐘

 

5樣品倉

5.1樣品倉內(nèi)徑：340mm

5.2接口：總共12個，可接能譜3個（1個35°,2個平行180°）

 

6樣品臺

6.1 五軸全對中馬達樣品臺，行程：X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mm

*6.2 傾斜Tilt(°)：-15 ~ +90，旋轉(zhuǎn)Rotation(°)：360°連續(xù)

6.3 最大樣品尺寸：可沿 X、 Y 軸完全旋轉(zhuǎn)時直徑為 122 mm，最大樣品高度 距共心點 85mm

6.4 分析工作距離：不小于10mm

6.5 多功能樣品臺：多用途標(biāo)準支架，以獨特方式直接安裝到載物臺，最多可支持 18 個標(biāo)準樣品臺 (Ø12 mm)、3 個預(yù)先傾斜的樣品臺、切片樣品和不需要工具來安裝樣品

 

7軟件

7.1圖像輸出分辨率：6144x4096像素，8/16/24位深度BMP、JPG

7.2光柵掃描：駐留時間25ns到25ms/像素

7.3智能掃描和漂移補償：SmartSCAN（256 幀平均或積分、線積分和平均法、隔行掃描），DCFI（漂移補償幀積分），主要用于控制消除荷電

7.4控制：手動/自動控制亮度/對比度

7.5掃描方式：正常掃描、縮小光柵、定點、線掃描、掃描旋轉(zhuǎn)、傾斜校正

7.6顯示方式和探測器通道數(shù)量：單幅或4幅圖像實時顯示，標(biāo)準4通道，任意兩個探測器的輸入可混合

 

能譜儀具體指標(biāo)：

8.1 SDD電制冷高效高分辨能譜儀探測器，無需液氮冷卻

8.2 元素分析范圍:  Be ~Am

8.3. 探測器晶體面積:  40mm2

8.4 分辨率: 優(yōu)于129 eV， Mn Ka

8.5 32位8192通道MCA，可采集任意數(shù)量幅的X-射線元素面分布圖；具有定量元素面分布和定量線掃描功能。

8.6 全譜圖像采集分析軟件：一次使用樣品，即可得到采集區(qū)域每個像素點形貌和成分數(shù)據(jù)，無需二次利用樣品。在全譜圖像上可完成任意點、線、面、不規(guī)則圖形中的元素定性和定量分析。

8.7 高級化合物成分分析軟件：軟件自動提取每個像素點的特征譜，自動完成成分差異提取；自動得出不同區(qū)域的化學(xué)物組成分析，確保每個操作者得到分析結(jié)果都是一樣的。

8.8 軟件脫機安裝和升級： 滿足用戶將能譜儀分析軟件免費安裝在另外的10臺計算機上脫機離線分析使用，以便提供電鏡和能譜儀的使用效率。當(dāng)廠商軟件升級時，應(yīng)免費提供。

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