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SEM 高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過(guò)程中動(dòng)態(tài)時(shí)實(shí)觀測(cè)樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。
特 點(diǎn)：
· 電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時(shí)，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
· 可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
· 試驗(yàn)過(guò)程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。
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發(fā)布時(shí)間：2021-02-23 11:37:04
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